ENG FB kontakt

20.04.2024

Strona główna Aktualności Wydarzenia 100. rocznica ochrony własności przemysłowej w Polsce oraz ustanowienia Urzędu Patentowego RP i zawodu rzecznika patentowego

100. rocznica ochrony własności przemysłowej w Polsce oraz ustanowienia Urzędu Patentowego RP i zawodu rzecznika patentowego

21-11-2018

W ciągu 100 lat nieprzerwanej działalności Urząd Patentowy RP udzielił ponad 229 tysięcy patentów na wynalazki, zarejestrował ponad 69 tysięcy wzorów użytkowych, 42 tysiące wzorów przemysłowych, zdobniczych oraz wzorów rysunkowych i modeli oraz ponad 465 tysięcy znaków towarowych. Łącznie w tym okresie wpłynęło do Urzędu Patentowego RP ponad 1 mln 200 tys. zgłoszeń.

Obecnie do Urzędu Patentowego RP wpływa w trybie krajowym łącznie około 20 tys. zgłoszeń wynalazków, wzorów użytkowych, wzorów przemysłowych i znaków towarowych rocznie. Na terenie Polski pozostaje aktualnie w mocy ponad 328 tys. praw wyłącznych, w tym prawie 22 tys. patentów udzielonych w trybie krajowym, 64 tys. walidowanych patentów europejskich, ponad 151 tys. praw ochronnych na znaki towarowe udzielonych w trybie krajowym oraz 83 tys. w trybie międzynarodowym.

 

 

Urząd Patentowy RP, ustanowiony 28 grudnia 1918 roku dekretem Naczelnika Państwa Józefa Piłsudskiego, był jedną z pierwszych instytucji państwowych utworzonych po odzyskaniu niepodległości. Ten sam akt prawny określił również podstawowe ramy działania rzeczników patentowych, jako zawodowych pełnomocników upoważnionych do reprezentowania stron postępowania przed Urzędem Patentowym RP. W 1919 r. Powołanie Urzędu Patentowego RP było wyrazem przyjęcia w 1918 r. przez najwyższe władze odrodzonej Polski zasady wspierania rozwoju technicznego i gospodarczego poprzez zagwarantowanie twórcy prawa do stworzonego wynalazku oraz bezpieczeństwa prawnego w obrocie gospodarczym i wspierania odradzającego się przemysłu.

 

Źródło: Urząd Patentowy RP

Strona główna Aktualności Wydarzenia 100. rocznica ochrony własności przemysłowej w Polsce oraz ustanowienia Urzędu Patentowego RP i zawodu rzecznika patentowego

Zamów NEWSLETTER

Nasze propozycje

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych
Jacek Banasiak, Katarzyna Szymańska-Dębowska

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Układy dynamiczne" to podręcznik związany z analizą układów dynamicznych, którą można zastosować w różnych...

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka
Joel L. Schiff (Tłum.: W. Sikorski)

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Matematyczny wszechświat" to wciągająca opowieść, która odkrywa przed czytelnikami prawa matematyczne...

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach
Tomasz Trzepieciński

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach

Wydawnictwo Naukowe PWN

W książce Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach przedstawiono specyfikę zjawiska tarcia...

Nasi partnerzy