ENG FB kontakt

25.04.2024

Strona główna Aktualności Wydarzenia Nowości firmy Renishaw na EMO 2017

Nowości firmy Renishaw na EMO 2017

21-09-2017

Firma Renishaw, światowy ekspert w dziedzinie precyzyjnych technologii, zaprezentowała swoją ofertę podczas największej na świecie wystawy dedykowanej obróbce metalu - EMO Hannover 2017. Na dwóch tematycznych stoiskach pokazana została bogata rodzina sprzętu pomiarowego Renishaw oraz systemy wytwarzania przyrostowego.

Na stoisku metrologicznym zaprezentowano m.in. nowy system SPRINT z funkcją SupaScan, przeznaczony do łatwej integracji z obrabiarkami wymagającymi wyjątkowo szybkiego ustawiania przedmiotu obrabianego, a także tam, gdzie całkowity czas cyklu ma znaczenie krytyczne. Technologia SupaScan oferuje cykle ustawiania przedmiotu obrabianego, które umożliwiają dokładny pomiar nawet przy posuwie z dużą prędkością (G0), w wyniku czego uzyskuje się najszybsze ustawianie przedmiotu obrabianego, bazujące na sondzie montowanej na wrzecionie.

Podczas wystawy przedstawiona została także: nowa, udoskonalona sonda do pomiaru chropowatości powierzchni (SFP2) przeznaczona do użycia z 5-osiowym systemem pomiarowym REVO, nowe oprogramowanie sprawdzianu produkcyjnego Equator™ do inteligentnej kontroli procesu, które umożliwia w pełni automatyczną aktualizację offsetu narzędzia podczas procesów produkcyjnych CNC, a także udoskonalony i rozbudowany bezdotykowy system do ustawiania narzędzi NC4 oraz interfejs NCi-6, umożliwiający szybkie oraz precyzyjne wyznaczanie geometrii narzędzia, sprawdzanie jego stanu i śledzenie zmian termicznych w 3-osiowych i 5-osiowych centrach obróbkowych.

Goście odwiedzający stoisko dedykowane w całości drukowi 3D z proszków metali, mogli zapoznać się z maszynami RenAM 500M i AM 400, a także z najnowszą wersją oprogramowania do przygotowania plików modeli QuantAM 2017.

 

Źródło: Renishaw

Strona główna Aktualności Wydarzenia Nowości firmy Renishaw na EMO 2017

Zamów NEWSLETTER

Nasze propozycje

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych
Jacek Banasiak, Katarzyna Szymańska-Dębowska

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Układy dynamiczne" to podręcznik związany z analizą układów dynamicznych, którą można zastosować w różnych...

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka
Joel L. Schiff (Tłum.: W. Sikorski)

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Matematyczny wszechświat" to wciągająca opowieść, która odkrywa przed czytelnikami prawa matematyczne...

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach
Tomasz Trzepieciński

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach

Wydawnictwo Naukowe PWN

W książce Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach przedstawiono specyfikę zjawiska tarcia...

Nasi partnerzy