ENG FB kontakt

25.04.2024

Strona główna Styczeń 2019 Ocena wpływu gęstości próbkowania poziomego na proces dekompozycji falkowej *

Ocena wpływu gęstości próbkowania poziomego na proces dekompozycji falkowej *

Evaluation of the impact of the horizontal sampling density on the wavelet analysis process

Włodzimierz Makieła, Damian Gogolewski   |   29-12-2018

Mechanik nr 01/2019 - Metrologia techniczna

STRESZCZENIE: Oceniono znaczenie gęstości próbkowania poziomego oraz poziomu dekompozycji falkowej w aspekcie zastosowania poszczególnych funkcji falkowych do podziału badanego profilu pierwotnego na składowe nierówności powierzchni. Pomiary profili powierzchni wykonano za pomocą profilometru stykowego, z określoną gęstością próbkowania. Analizie poddano dwa typy powierzchni: wytworzoną techniką przyrostową oraz po obróbce szlifowaniem.

SŁOWA KLUCZOWE: analiza falkowa, filtracja, chropowatość powierzchni, gęstość próbkowania poziomego

ABSTRACT: The paper assesses the impact of horizontal sampling density and level of wavelet decomposition in the aspect of applying mother wavelet to divide components of surface texture. Measurements of surface profiles were made using a contact profilometer applying a specific sample density. Two types of surfaces were prepared: using additive technology and grinding.

KEYWORDS: wavelet analysis, filtration, surface roughness, horizontal sampling density

BIBLIOGRAFIA / BIBLIOGRAPHY:

  • Jiang X., Blunt L. “Third generation wavelet for the extraction of morphological features from micro and nano scalar surface”. Wear. 257 (2014): s. 1235–1240.
  • Abdul-Rahman H.S., Jiang X., Scott P. “Freeform surface filtering using the lifting wavelet transform”. Precision Engineering. 37 (2013): s. 187–202.
  • Chen M., Pang Q., Wang J., Cheng K. “Analysis of 3D microtopography in machined KDP crystal surfaces based on fractal and wavelet methods”. International Journal of Machine Tools and Manufacture. 48 (2008): s. 905–913.
  • Zawada-Tomkiewicz A. “Estimation of surface roughness parameter based on machined surface image”. Metrology and Measurement System. 17, 3 (2010): s. 493–504.
  • Dutta S., Pal S.K., Sen R. “Progressive tool flank wear monitoring by applying discrete wavelet transform on turned surface images”. Measurement. 77 (2016): s. 388–401.
  • Zahouani H., Mezghani S., Vargiolu R., Dursapt M. “Identification of manufacturing signature by 2D wavelet decomposition”. Wear. 264 (2008): s. 480–485.
  • Josso B., Burton D.R., Lalor M.J. “Frequency normalized wavelet transform for surface roughness analysis and characterization”. Wear. 252 (2012): s. 491–500.
  • Makieła W., Gogolewski D. „Metoda rozdzielania składowych nierówności powierzchni za pomocą dwuwymiarowej transformaty falkowej”. Mechanik. 11 (2016): s. 1716–1717.
  • Adamczak S., Świderski J., Dobrowolski T. „Analiza wpływu gęstości próbkowania poziomego na parametry chropowatości”. Mechanik. 4 (2017): s. 332–334.

DOI: https://doi.org/10.17814/mechanik.2019.1.4

 

* Artykuł recenzowany

Pobierz plik / download

Włodzimierz Makieła, Damian Gogolewski: Ocena wpływu gęstości próbkowania poziomego na proces dekompozycji falkowej (Evaluation of the impact of the horizontal sampling density on the wavelet analysis process) (PDF, ~0,7 MB)

Strona główna Styczeń 2019 Ocena wpływu gęstości próbkowania poziomego na proces dekompozycji falkowej *

Zamów NEWSLETTER

Nasze propozycje

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych
Jacek Banasiak, Katarzyna Szymańska-Dębowska

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Układy dynamiczne" to podręcznik związany z analizą układów dynamicznych, którą można zastosować w różnych...

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka
Joel L. Schiff (Tłum.: W. Sikorski)

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Matematyczny wszechświat" to wciągająca opowieść, która odkrywa przed czytelnikami prawa matematyczne...

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach
Tomasz Trzepieciński

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach

Wydawnictwo Naukowe PWN

W książce Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach przedstawiono specyfikę zjawiska tarcia...

Nasi partnerzy