ENG FB kontakt

25.04.2024

Strona główna Listopad 2016 Optymalizacja konstrukcyjna układu interferometrycznego do pomiaru mikroodchyleń kątowych *

Optymalizacja konstrukcyjna układu interferometrycznego do pomiaru mikroodchyleń kątowych *

Optimization of the design of the interferometer for angular micro deflection measurement

Marek Dobosz   |   31-10-2016

Mechanik nr 11/2016 - XVI Krajowa VII Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna „Metrologia w technikach wytwarzania”

STRESZCZENIE: Przedstawiono metodę i interferencyjny czujnik do pomiaru wzajemnych mikroodchyleń kątowych wiązki laserowej i czujnika. Przeanalizowano wybrane konfiguracje układów optycznych. Oceniono wpływ błędów wykonania elementów optycznych w wybranym układzie interferometru.

SŁOWA KLUCZOWE: pomiary odchyleń kątowych, interferometr laserowy

ABSTRACT: Method and the interference sensor for measuring micro-deviations of a laser beam in relation to the sensor is presented. Selected configurations of optical system are analyzed. Influence of fabrication errors in optical components in the selected layout is presented.

KEYWORDS: measurement of the angular deflection, laser interferometer

BIBLIOGRAFIA / BIBLIOGRAPHY:

  • http://www.photonicsonline.com/article.mvc/Measuring-Laser-Position-Pointing-Stability-0002Measuring, “Laser Position & Pointing Stability – Application Note”, Photon Inc. Precision Beam Profiling, Photonics Online, 2009.
  • http://www.ophiropt.com/laser-measurement instruments/beam-profilers/products/slit-based-profilers/nanoscan.
  • Putman C.A.J., De Grooth B.G., van de Hulst N.F., Greve J. “A detailed analysis of the optical beam deflection technique for use in atomic force microscopy”. Appl. Phys. Vol. 72 (1992): pp. 6–12.
  • Meyer G., Amer N. M. “Optical beam deflection atomic force microscopy: The NaCl(001) surface”. Appl. Phys. Lett. Vol. 56, pp. 2100–2101.
  • Levesque M., Mailloux A., Morin M., Galarneau P., Champagne Y., Plomteux O., Tiedtke M. “Laser pointing stability measurements”. Proc. SPIE. Vol. 2870 (1996): pp. 216–224.
  • “Lasers and laser-related equipment – Test methods for laser beam parameters – Beam positional stability”, International Standard ISO 11670, 2003.04.01.
  • Villatoro J., García-Valenzuela A. “Measuring optical power transmission near the critical angle for sensing beam deflection”. Appl. Opt. Vol. 37, No. 28 (1998): pp. 6649–6653.
  • García-Valenzuela A., Sandoval-Romero G.E., Sánchez-Pérez C. “High-resolution optical angle sensors: approaching the diffraction limit to the sensitivity”. Appl. Opt. Vol. 43, No. 22 (2004): pp. 4311–4321 and references therein.
  • García-Valenzuela A., Peña-Gomar M., Villatoro J. “Sensitivity analysis of angle sensitive detectors based on a film resonator”. Opt. Eng. Vol. 42 (2003): pp. 1084–1092 and references therein.
  • Gray J., Thomas P., Zhu X.D. “Laser pointing stability measured by an oblique-incidence optical transmittance difference technique”. Review of Scientific Instruments. Vol. 72, No. 9 (2001): pp. 3714–3717.
  • Dobosz M., Iwasińska-Kowalska O. “Interference method for ultra-precision measurement and compensation of laser beam angular deflection”. Appl. Opt. Vol. 53, No. 1 (2014): pp. 111–122.
  • Dobosz M., Iwasińska-Kowalska O. Polish patent application P-397925 (in Polish).

DOI: http://dx.doi.org/10.17814/mechanik.2016.11.497

Pobierz plik / download

Marek Dobosz: Optymalizacja konstrukcyjna układu interferometrycznego do pomiaru mikroodchyleń kątowych (Optimization of the design of the interferometer for angular micro deflection measurement) (PDF, ~0,7 MB)

Strona główna Listopad 2016 Optymalizacja konstrukcyjna układu interferometrycznego do pomiaru mikroodchyleń kątowych *

Zamów NEWSLETTER

Nasze propozycje

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych
Jacek Banasiak, Katarzyna Szymańska-Dębowska

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Układy dynamiczne" to podręcznik związany z analizą układów dynamicznych, którą można zastosować w różnych...

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka
Joel L. Schiff (Tłum.: W. Sikorski)

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Matematyczny wszechświat" to wciągająca opowieść, która odkrywa przed czytelnikami prawa matematyczne...

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach
Tomasz Trzepieciński

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach

Wydawnictwo Naukowe PWN

W książce Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach przedstawiono specyfikę zjawiska tarcia...

Nasi partnerzy