ENG FB kontakt

25.04.2025

Strona główna Lipiec 2016 Analizy topografii powierzchni w układzie 3D z zastosowaniem filtra w formacie prostokątnym *

Analizy topografii powierzchni w układzie 3D z zastosowaniem filtra w formacie prostokątnym *

Surface topography analysis in 3d system using filtration in rectangle format

Ireneusz Piotr Chmielik, Henryk Czarnecki   |   06-07-2016

Mechanik nr 07/2016 - XX Międzynarodowa Szkoła Komputerowego Wspomagania Projektowania, Wytwarzania i Eksploatacji

STRESZCZENIE: W opracowaniu przedstawiono wykorzystanie do analizy wskaźników chropowatości w układzie 3D filtrów w formacie prostokątnym. Do określenia wpływu zmiany wymiaru filtra w formacie prostokątnym wybrano powierzchnie po nagniataniu tocznym charakteryzujące się dużymi odstępami nierówności i regularnym ich rozkładem. Analizy dokonano w oparciu o pomiary na profilografometrze New Form Talysurf 2D/3D 120 firmy Taylor Hobson i oprogramowanie TalyMap Platinum 5.1.1.

SŁOWA KLUCZOWE: filtrowanie w formacie prostokątnym, wskaźniki chropowatości 3D

ABSTRACT: This article presents the use of filters of rectangle format in analysis of roughness indicators in 3D system. To describe influence of filter size changes in rectangle format, surfaces after roller burnishing were chosen, which are characterized by major spaces between peaks of irregularities and regular distribution of these irregularities. Analysis was conducted based on measurements done on New Form Talysurf 2D/3D 120 by Taylor Hobson and with TalyMap Platinum 5.1.1.

KEYWORDS: filtration in rectangle format, 3D roughness indicators

BIBLIOGRAFIA / BIBLIOGRAPHY:

  • Adamczak S. „Pomiary geometryczne powierzchni”. WNT Warszawa 2008.
  • Whitehouse D.J. “Handbook of Surface Metrology”. Institute of Physics. Bristol and Philadelphia 1994.
  • Chmielik I.P. „Parametryczna ocena struktury powierzchni po nagniataniu”. Praca doktorska, Częstochowa 2012.
  • Chmielik I., Tubielewicz K. „Pomiary parametrów struktury powierzchni po nagniataniu w ujęciu 2D i 3D. Postęp w metrologii współrzędnościowej”. Wyd. ATH w Bielsku Białej. S. Monografie Bielsko-Ustron 2010.
  • Oczoś K., Liubimov V. „Rozważania nad istotnością parametrów struktury powierzchni w układzie 3D”. Mechanik 03/2010.
  • Wieczorowski M., Cellary A., Chajda J. „Przewodnik po pomiarach nierówności powierzchni czyli o chropowatości i nie tylko”. Wyd. M-druk Poznań.
  • Wieczorowski M. „Wykorzystanie analizy topograficznej pomiarach nierówności powierzchni”. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, Poznań 2009.
  • Pawlus P. „Topografia powierzchni pomiar, analiza, oddziaływanie”. Politechnika Rzeszowska 2005.
  • Chmielik I.P., Tomasik J., Czarnecki H. „Wpływ gęstości próbkowania w pomiarach chropowatości powierzchni metodą 3D na wartości wybranych parametrów”. Mechanik nr 4 2012, s. 324÷327.
  • Wieczorowski M. „Metrologia nierówności powierzchni, metody i systemy”. Wyd. ZAPOL Szczecin 2013.

DOI: http://dx.doi.org/10.17814/mechanik.2016.7.114

Pobierz plik / download

Ireneusz Piotr Chmielik, Henryk Czarnecki: Analizy topografii powierzchni w układzie 3D z zastosowaniem filtra w formacie prostokątnym (Surface topography analysis in 3d system using filtration in rectangle format) (PDF, ~1,3 MB)

Strona główna Lipiec 2016 Analizy topografii powierzchni w układzie 3D z zastosowaniem filtra w formacie prostokątnym *

Zamów NEWSLETTER

Nasze propozycje

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii
Vince Beiser

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii

Wydawnictwo Prześwity

Wyścig o metale niezbędne ludzkości do produkcji czystej energii oraz rozwoju cyfrowych technologii...

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych
Marek Blicharski, Jan Sieniawski

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych

Wydawnictwo Naukowe PWN

Książka jest pierwszym w kraju opracowaniem tłumaczącym wyczerpująco i na dobrym poziomie zjawiska fizyczne...

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Nasi partnerzy