ENG FB kontakt

18.05.2025

Strona główna Listopad 2016 Bardzo dobre wyniki GUM w porównaniach międzynarodowych „Pomiary płytek wzorcowych metodą interferencyjną” jako efekt współpracy naukowej z Politechniką Warszawską *

Bardzo dobre wyniki GUM w porównaniach międzynarodowych „Pomiary płytek wzorcowych metodą interferencyjną” jako efekt współpracy naukowej z Politechniką Warszawską *

Very good results of Central Office of Measures in key comparison „Measurement of gauge blocks by interferometry” as the result of cooperation in research with Warsaw University of Technology

Robert Szumski   |   29-10-2016

Mechanik nr 11/2016 - VII Kongres Metrologii „Metrologia fundamentem postępu w naukach stosowanych”

STRESZCZENIE: Równoważność wzorcowań płytek wzorcowych oferowanych przez krajowe instytucje metrologiczne została zweryfikowana w trakcie międzynarodowych porównań kluczowych EURAMET. L‑K1.2011. Laboratorium Długości w Zakładzie Długości i Kąta GUM osiągnęło bardzo dobre wyniki, które potwierdzają jego możliwości pomiarowe zgłoszone do międzynarodowej bazy CMC, a także uzyskało możliwość zgłoszenia do tej bazy nowej usługi wzorcowania, świadczonej na interferometrze multispektralnym do wzorcowania długich płytek wzorcowych o długości do 1000 mm

SŁOWA KLUCZOWE: płytki wzorcowe, interferencja, porównania międzynarodowe

ABSTRACT: The metrological equivalence of the gauge block calibration services offered by NMIs was verified in international key comparison EURAMET.L‑K1.2011. Length Laboratory of Length and Angle Division from Central Office of Measures has achieved very good results in the comparison and confirmed its measurement capabilities listed in Appendix C of the Mutual Recognition Arrangement (MRA). Laboratory also got the ability to submit the new service for the Multiwavelength interferometer for the calibration of gauge blocks up to 1000 mm.

KEYWORDS: gauge blocks, interferometry, key comparison

BIBLIOGRAFIA / BIBLIOGRAPHY:

  • Matus M. et al. “Measurement of gauge blocks by interferometry”. Metrologia. 53 (2016).
  • Wengierow M. et al. “Measurement system based on multi-wavelength interfereometry for long gauge block calibration”. Metrol. Meas. Syst. Vol. XX (2013): pp. 479–490.
  • Szumski R. „Pomiary długich płytek wzorcowych na zmodernizowanym stanowisku pomiarowym z interferometrem laserowym”. Pomiary Automatyka Kontrola. Nr 59 (2013): s. 304–307.
  • JCGM 100:2008 Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement. BIPM
  • Decker J.E., Pekelsky J.R. “Uncertainty evaluation for the measurement of gauge blocks by optical interferometry”. Metrologia. Nr 34 (1997): s. 479–493.
  • Nien F.Z. et al. “Statistical analysis of key comparisons with linear trends”. Metrologia. Nr 41(2004): s. 231–237.
  • Krystek M., Bosse H. “A Bayesian approach to the linking of key comparisons”. arXiv:1501.07134 [stat.AP] (2015).
  • Lewis A. “Running of MRA comparisons in length metrology and monitoring their impact on CMCs”. CCL/WG-MRA/GD-1 (2012).

DOI: http://dx.doi.org/10.17814/mechanik.2016.11.462

Pobierz plik / download

Robert Szumski: Bardzo dobre wyniki GUM w porównaniach międzynarodowych „Pomiary płytek wzorcowych metodą interferencyjną” jako efekt współpracy naukowej z Politechniką Warszawską (Very good results of Central Office of Measures in key comparison „Measurement of gauge blocks by interferometry” as the result of cooperation in research with Warsaw University of Technology) (PDF, ~0,6 MB)

Strona główna Listopad 2016 Bardzo dobre wyniki GUM w porównaniach międzynarodowych „Pomiary płytek wzorcowych metodą interferencyjną” jako efekt współpracy naukowej z Politechniką Warszawską *

Zamów NEWSLETTER

Kalendarium wydarzeń

Pn
Wt
Śr
Cz
Pt
So
Nd

Nasze propozycje

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii
Vince Beiser

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii

Wydawnictwo Prześwity

Wyścig o metale niezbędne ludzkości do produkcji czystej energii oraz rozwoju cyfrowych technologii...

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych
Marek Blicharski, Jan Sieniawski

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych

Wydawnictwo Naukowe PWN

Książka jest pierwszym w kraju opracowaniem tłumaczącym wyczerpująco i na dobrym poziomie zjawiska fizyczne...

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Nasi partnerzy