ENG FB kontakt

25.04.2025

Strona główna Aktualności Wydarzenia CT SCAN FORUM - Firma Ita zaprasza na konferencję

CT SCAN FORUM - Firma Ita zaprasza na konferencję

26-08-2022

 

Firma Ita zaprasza na dwudniowe wydarzenie poświęcone tomografii przemysłowej oraz skanowaniu 3D - CT | SCAN FORUM, które odbędzie się w dniach 12-13 października 2022 r. na terenie zabytkowej Walcowni – Muzeum Hutnictwa Cynku w Katowicach.

Wydarzenie będzie doskonałą okazją do:

  • poznania najnowszych rozwiązań technologicznych
  • spotkań z ekspertami i użytkownikami
  • wzięcia udziału w warsztatach szkoleniowych
  • zdobycia wiedzy teoretycznej i umiejętności praktycznych

Podczas forum uczestnicy skupią się nie tylko na aspektach związanych z najnowszymi rozwiązaniami technicznymi oraz aplikacyjnymi, ale omówią również bieżące zagadnienia normalizacyjne oraz planowane w tym obszarze działania na najbliższą przyszłość.

Konferencja jest skierowana do wszystkich osób zainteresowanych tomografią przemysłową oraz skanowaniem 3D. Wszystkie informacje dotyczące konferencji są dostępne na  stronie internetowej www.ita-polska.com.pl w zakładce Wydarzenia.

 

 

Strona główna Aktualności Wydarzenia CT SCAN FORUM - Firma Ita zaprasza na konferencję

Zamów NEWSLETTER

Nasze propozycje

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii
Vince Beiser

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii

Wydawnictwo Prześwity

Wyścig o metale niezbędne ludzkości do produkcji czystej energii oraz rozwoju cyfrowych technologii...

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych
Marek Blicharski, Jan Sieniawski

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych

Wydawnictwo Naukowe PWN

Książka jest pierwszym w kraju opracowaniem tłumaczącym wyczerpująco i na dobrym poziomie zjawiska fizyczne...

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Nasi partnerzy