ENG FB kontakt

25.04.2025

Strona główna Aktualności Wydarzenia II Krajowa Konferencja Naukowa „Szybkie prototypowanie. Modelowanie – Wytwarzanie – Pomiary”

II Krajowa Konferencja Naukowa „Szybkie prototypowanie. Modelowanie – Wytwarzanie – Pomiary”

14-09-2016

W dniach 21÷23 września 2016 r. odbędzie się II Krajowa Konferencja Naukowa „Szybkie prototypowanie. Modelowanie – Wytwarzanie – Pomiary”, organizowana przez Politechnikę Warszawską (Wydział Samochodów i Maszyn Roboczych, Instytut Podstaw Budowy Maszyn oraz Wydział Inżynierii Produkcji, Instytut Mechaniki i Poligrafii, Zakład Konstrukcji Maszyn i Inżynierii Biomedycznej).

Konferencja jest skierowana zarówno do środowiska naukowego, jak i do przedstawicieli przemysłu. Zakresem tematycznym obejmuje:

  • systemy szybkiego prototypowania oraz wytwarzania w budowie maszyn, inżynierii produkcji i wzornictwie przemysłowym,
  • techniki przyrostowe i inżynierię odwrotną w medycynie i weterynarii,
  • obrazowanie medyczne oraz współrzędnościowe i optyczne metody pomiarowe,
  • metody badawcze prototypów,
  • materiały stosowane w metodach przyrostowych.

Źródło: www.szybkieprototypowanie.edu.pl

Strona główna Aktualności Wydarzenia II Krajowa Konferencja Naukowa „Szybkie prototypowanie. Modelowanie – Wytwarzanie – Pomiary”

Zamów NEWSLETTER

Nasze propozycje

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii
Vince Beiser

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii

Wydawnictwo Prześwity

Wyścig o metale niezbędne ludzkości do produkcji czystej energii oraz rozwoju cyfrowych technologii...

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych
Marek Blicharski, Jan Sieniawski

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych

Wydawnictwo Naukowe PWN

Książka jest pierwszym w kraju opracowaniem tłumaczącym wyczerpująco i na dobrym poziomie zjawiska fizyczne...

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Nasi partnerzy