ENG FB kontakt

17.05.2025

Strona główna Aktualności Wydarzenia II Ogólnopolskie Forum Technik Metrologicznych i Obróbki Skrawaniem

II Ogólnopolskie Forum Technik Metrologicznych i Obróbki Skrawaniem

30-05-2016

Od 22 czerwca do 24 czerwca w Hotelu Rubbens & Monet w Łysomicach (k. Torunia) odbędzie się II Ogólnopolskie Forum Technik Metrologicznych i Obróbki Skrawaniem. OFTMOS jest próbą spojrzenia na proces produkcji w sposób bardziej całościowy a konfrontacja specjalistów z zakresu tematów korespondujących na różnych etapach procesu zapewnia podniesienie efektywności działań wszystkich stron.

Podczas drugiego dnia forum odbędą się wykłady z zakresu metrologii oraz obróbki skrawaniem przez firmy FATPOL, OBERON 3D, SAUTER, BIBUS MENOS, MAHR, ATM Oil oraz LENSO. Zaprezentują się także przedstawiciele uczelni wyższych: Uniwersytetu Techniczno-Przyrodniczego z Bydgoszczy i Politechniki Opolskiej. Wieczorem odbędzie się uroczysta kolacja, na której nie zabraknie niespodzianek i wielu atrakcji. W ostatni dzień OFTMOS organizowane są warsztaty oraz spotkania networkingowe.

Wszystkie informacje można znaleźć na stronie www.oftmos.pl

Organizatorzy zapraszają serdecznie do wzięcia udziału w II Ogólnopolskim Forum Technik Metrologicznych i Obróbki Skrawaniem!

Strona główna Aktualności Wydarzenia II Ogólnopolskie Forum Technik Metrologicznych i Obróbki Skrawaniem

Zamów NEWSLETTER

Kalendarium wydarzeń

Pn
Wt
Śr
Cz
Pt
So
Nd

Nasze propozycje

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii
Vince Beiser

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii

Wydawnictwo Prześwity

Wyścig o metale niezbędne ludzkości do produkcji czystej energii oraz rozwoju cyfrowych technologii...

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych
Marek Blicharski, Jan Sieniawski

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych

Wydawnictwo Naukowe PWN

Książka jest pierwszym w kraju opracowaniem tłumaczącym wyczerpująco i na dobrym poziomie zjawiska fizyczne...

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Nasi partnerzy