ENG FB kontakt

25.04.2025

Strona główna Aktualności Wydarzenia Szkoła organizowana przez Wydział Mechatroniki i Lotnictwa WAT

Szkoła organizowana przez Wydział Mechatroniki i Lotnictwa WAT

10-03-2015

                 

 

XIX MIĘDZYNARODOWA SZKOŁA KOMPUTEROWEGO WSPOMAGANIA PROJEKTOWANIA, WYTWARZANIA I EKSPLOATACJI

JURATA 11-15 MAJA 2015 r.

Organizatorem Szkoły Komputerowego Wspomagania Projektowania, Wytwarzania i Eksploatacji jest Wydział Mechatroniki i Lotnictwa Wojskowej Akademii Technicznej.

Uczestnikami Szkoły są przedstawiciele nauki, przemysłu oraz firm wdrażających systemy komputerowego wspomagania i zaproszeni goście. Program Szkoły adresowany jest przede wszystkim do użytkowników systemów komputerowych w biurach, zakładach i przedsiębiorstwach przemysłowych; twórców metod i procedur komputerowego wspomagania; producentów sprzętu i autorów oprogramowania. Nad zapewnieniem odpowiednio wysokiego poziomu Szkoły czuwa Komitet Naukowy, który nadzoruje merytoryczne ukierunkowanie Szkoły oraz odpowiada za przygotowanie wykładów i recenzji. Materiały konferencyjne zostaną opublikowane w formie książkowej oraz w biuletynie WAT, Mechaniku.

Więcej informacji: http://www.wat.edu.pl lub http://www.wml.wat.edu.pl

Strona główna Aktualności Wydarzenia Szkoła organizowana przez Wydział Mechatroniki i Lotnictwa WAT

Zamów NEWSLETTER

Nasze propozycje

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii
Vince Beiser

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii

Wydawnictwo Prześwity

Wyścig o metale niezbędne ludzkości do produkcji czystej energii oraz rozwoju cyfrowych technologii...

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych
Marek Blicharski, Jan Sieniawski

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych

Wydawnictwo Naukowe PWN

Książka jest pierwszym w kraju opracowaniem tłumaczącym wyczerpująco i na dobrym poziomie zjawiska fizyczne...

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Nasi partnerzy