Wzorce materialne do kalibracji przyrządów do pomiarów stereometrii powierzchni*
Material measures for calibration of instruments for measuring surface texture
Mechanik nr 11/2016 - XVI Krajowa VII Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna „Metrologia w technikach wytwarzania”
STRESZCZENIE: W artykule przedstawiono charakterystyki metrologiczne grupy nowych wzorców materialnych przeznaczonych do kalibracji przyrządów stykowych i optycznych do pomiarów struktury geometrycznej powierzchni.
SŁOWA KLUCZOWE: struktura geometryczna powierzchni, wzorce materialne, wzorce programowane spójność pomiarowa
ABSTRACT: The article presents the metrological characteristics of the new material measures intended for calibration of optical and contact instruments for measuring of surface texture.
KEYWORDS: surface texture, material measures, software measurement standards metrological traceability
BIBLIOGRAFIA / BIBLIOGRAPHY:
- Adamczak S., Świderski J., Wieczorowski M., Majchrowski R., Miller T., Łętocha A. „Założenia do oceny wiarygodności pomiarów topografii powierzchni w różnych skalach”. Mechanik. Nr 3 (2015): s. 81–87.
- PN-EN ISO 25178-6 2011 Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS) Struktura geometryczna powierzchni: Przestrzenna Część 6: Klasyfikacja metod pomiaru struktury geometrycznej powierzchni.
- PN-EN ISO 25178-70 Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS) – Struktura geometryczna powierzchni: Przestrzenna – Część 70: Wzorce materialne.
- PKN-ISO/IEC Guide 99: Międzynarodowy słownik metrologii. Pojęcia podstawowe i ogólne terminy z nimi związane (VIM).
- Leach R.K., Giusca C.L., Haitjema H., Evans C., Jiang X. “Calibration and verification of areal surface texture measuring instruments”. CIRP Annals – Manufacturing Technology. Vol. 64, Iss. 2 (2015): pp. 545–548.
- PN-EN ISO 25178-71 Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS) – Struktura geometryczna powierzchni: Przestrzenna – Część 71: Wzorce programowane.
