ENG FB kontakt

26.04.2025

Strona główna Aktualności Wydarzenia X edycja konkursu o stypendia dla wybitnych młodych naukowców

X edycja konkursu o stypendia dla wybitnych młodych naukowców

14-01-2015

Jak co roku, Minister Nauki i Szkolnictwa Wyższego przyznaje stypendia wybitnym młodym naukowcom, na podstawie złożonych wniosków, w drodze konkursu. Stypendium może być przyznane osobie prowadzącej działalność naukową, która nie ukończyła 35. roku życia w chwili składania wniosku.

Wnioski o przyznanie stypendium mogą składać rady naukowe, rady wydziałów lub organy reprezentujące inne jednostki naukowe, zatrudniające młodych naukowców.

Wnioski o stypendia należy złożyć w formie elektronicznej w systemie teleinformatycznym Obsługa Strumieni Finansowania (OSF), dostępnym od 2 stycznia 2015 r. na stronie osf.opi.org.pl w nieprzekraczalnym terminie do dnia 31 marca 2015 r. oraz przez platformę e-PUAP (epuap.gov.pl).

Więcej informacji: http://www.nauka.gov.pl

Strona główna Aktualności Wydarzenia X edycja konkursu o stypendia dla wybitnych młodych naukowców

Zamów NEWSLETTER

Nasze propozycje

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii
Vince Beiser

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii

Wydawnictwo Prześwity

Wyścig o metale niezbędne ludzkości do produkcji czystej energii oraz rozwoju cyfrowych technologii...

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych
Marek Blicharski, Jan Sieniawski

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych

Wydawnictwo Naukowe PWN

Książka jest pierwszym w kraju opracowaniem tłumaczącym wyczerpująco i na dobrym poziomie zjawiska fizyczne...

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Nasi partnerzy