ENG FB kontakt

25.04.2025

Strona główna Nasze propozycje Analiza danych w naukach ścisłych i technice

Analiza danych w naukach ścisłych i technice

Wydawnictwo: Wydawnictwo Naukowe PWN

Autor: Andrzej Zięba

Analiza danych w naukach ścisłych i technice

    Jest to nowoczesny podręcznik prezentujący aktualne tendencje i zalecenia, a także metody analizy danych. W książce opisano rozwój programów komputerowych, które umożliwiły wykorzystanie wielu metod, niestosowanych dotychczas z powodu trudności obliczeniowych. Wśród walorów podnoszących atrakcyjność podręcznika są m.in.: pełne uwzględnienie zaleceń konwencji GUM oceny niepewności pomiaru; rzetelny opis obecnego stanu i nowości w dziedzinie jednostek miar (m.in. „kwantowy” układ jednostek miar SI); prezentacja metod dopasowania obejmująca algorytmy dopasowania różnych funkcji oraz badanie jakości dopasowania; opis nowych metod statystycznych, takich jak: statystyka odpornościowa, analiza danych samoskorelowanych i zastosowania modelowania Monte Carlo.
    Podręcznik jest przeznaczony nie tylko dla kadry akademickiej i studentów biorących udział w kursie statystki i opracowania danych, lecz także dla zawodowych metrologów oraz pracowników laboratoriów analitycznych.

A. Zięba: Analiza danych w naukach ścisłych i technice. Wydawnictwo Naukowe PWN. Warszawa 2013.

K.J.

Strona główna Nasze propozycje Analiza danych w naukach ścisłych i technice

Zamów NEWSLETTER

Nasze propozycje

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii
Vince Beiser

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii

Wydawnictwo Prześwity

Wyścig o metale niezbędne ludzkości do produkcji czystej energii oraz rozwoju cyfrowych technologii...

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych
Marek Blicharski, Jan Sieniawski

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych

Wydawnictwo Naukowe PWN

Książka jest pierwszym w kraju opracowaniem tłumaczącym wyczerpująco i na dobrym poziomie zjawiska fizyczne...

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Nasi partnerzy