ENG FB kontakt

15.06.2024

Strona główna Nasze propozycje Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo: Wydawnictwo Naukowe PWN

Autor: Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy struktury geometrycznej powierzchni. Autorem tej wyjątkowej pozycji wydawniczej jest prof. dr hab. inż. Stanisław Adamczak, były rektor Politechniki Świętokrzyskiej, który od wielu lat − wraz z zespołem współpracowników z tej uczelni oraz z innych ośrodków badawczych i przemysłowych − zajmuje się tematyką oceny struktury geometrycznej powierzchni.

W książce zachowano bardzo dobrą proporcję między wiedzą teoretyczną, niezbędną do zrozumienia istoty pomiarów struktury geometrycznej powierzchni technologicznych a przykładami z praktyki przemysłowej. Dzięki temu publikacja jest także bogata w wiedzę przydatną w pracy inżynierskiej. Zawiera wiele ilustracji oraz przykładów rozwiązań stosowanych w praktyce, zwłaszcza w branży łożysk. Zdaniem Autora materiał zawarty w tej publikacji: będzie łatwy do przyswojenia, gdyż nie zawiera teoretycznych, złożonych zagadnień pomiarów geometrycznych powierzchni, a głównie problemy aplikacyjne powiązane bezpośrednio z produkcją.

Czytelnik będzie mógł przeczytać m.in. o:

  • skomputeryzowanych systemach pomiarowych,
  • tolerancjach geometrycznych,
  • zarysach walcowości, prostoliniowości, płaskości i kulistości,
  • ocenie falistości oraz mikro- i nanochropowatości powierzchni.

Wydawca kieruje tę książkę przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, przedstawicieli służb kontrolno-pomiarowych, pracowników utrzymania ruchu, a także do specjalistów ds. jakości w przemyśle maszynowym oraz w branżach pokrewnych. Pozycja ta może stanowić cenną pomoc dla doktorantów i studentów kierunków technicznych, takich jak mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji czy mechatronika.

Opracował: dr hab. inż. Czesław Łukianowicz prof. PK

 

Stanisław Adamczak: Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość. Warszawa: Wydawnictwo Naukowe PWN, 2023

Strona główna Nasze propozycje Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Zamów NEWSLETTER

Nasze propozycje

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych
Jacek Banasiak, Katarzyna Szymańska-Dębowska

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Układy dynamiczne" to podręcznik związany z analizą układów dynamicznych, którą można zastosować w różnych...

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka
Joel L. Schiff (Tłum.: W. Sikorski)

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Matematyczny wszechświat" to wciągająca opowieść, która odkrywa przed czytelnikami prawa matematyczne...

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach
Tomasz Trzepieciński

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach

Wydawnictwo Naukowe PWN

W książce Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach przedstawiono specyfikę zjawiska tarcia...

Nasi partnerzy