ENG FB kontakt

18.05.2025

Strona główna Nasze propozycje RFID od koncepcji do wdrożenia. Polska perspektywa

RFID od koncepcji do wdrożenia. Polska perspektywa

Wydawnictwo: Wydawnictwo Naukowe PWN

Autor: Bartłomiej Gładysz, Michał Grabia, Krzysztof Santarek

RFID od koncepcji do wdrożenia. Polska perspektywa

To pierwsza w Polsce książka poświęcona innowacyjnej technologii automatycznej identyfikacji radiowej RFID, coraz częściej wykorzystywanej w procesach logistycznych. Stanowi kompendium wiedzy nt. zastosowania RFID w logistyce, wzbogacone o opisy wdrożeń tej technologii w polskich i zagranicznych organizacjach. Studia przypadków zaprezentowano według jednolitego szablonu, przez co łatwo jest je porównywać. Publikacja ze względu na uniwersalność jest kierowana do szerokiego kręgu odbiorców – m.in. do osób studiujących nauki związane z logistyką, transportem, nowymi technologiami i telekomunikacją, jak również kadry kierowniczej firm logistycznych.

Bartłomiej Gładysz, Michał Grabia, Krzysztof Santarek: RFID od koncepcji do wdrożenia. Polska perspektywa. Wydawnictwo Naukowe PWN. Warszawa 2017

Strona główna Nasze propozycje RFID od koncepcji do wdrożenia. Polska perspektywa

Zamów NEWSLETTER

Kalendarium wydarzeń

Pn
Wt
Śr
Cz
Pt
So
Nd

Nasze propozycje

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii
Vince Beiser

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii

Wydawnictwo Prześwity

Wyścig o metale niezbędne ludzkości do produkcji czystej energii oraz rozwoju cyfrowych technologii...

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych
Marek Blicharski, Jan Sieniawski

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych

Wydawnictwo Naukowe PWN

Książka jest pierwszym w kraju opracowaniem tłumaczącym wyczerpująco i na dobrym poziomie zjawiska fizyczne...

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Nasi partnerzy