ENG FB kontakt

25.04.2025

Strona główna Nasze propozycje AutoCAD 2020/LT 2020 (2013+). Podstawy projektowania parametrycznego i nieparametrycznego. Wersja polska i angielska.

AutoCAD 2020/LT 2020 (2013+). Podstawy projektowania parametrycznego i nieparametrycznego. Wersja polska i angielska.

Wydawnictwo: Wydawnictwo Naukowe PWN

Autor: Andrzej Jaskulski

AutoCAD 2020/LT 2020 (2013+). Podstawy projektowania parametrycznego i nieparametrycznego. Wersja polska i angielska.

Podręcznik zawiera podstawowy kurs projektowania parametrycznego i nieparametrycznego 2D oraz drukowania dokumentacji wyrobów (z dowolnej branży) w podziałce 1:1 za pomocą programu AutoCAD lub AutoCAD LT. Książka została napisana dla wersji 2020, ale do nauki można używać programów nowszych lub starszych (jednak nie starszych niż AutoCAD 2013), w polskiej lub angielskiej wersji językowej.

Starannie przemyślane ćwiczenia są oparte na trzydziestoletnim doświadczeniu autora – zarówno dydaktycznym, jak i zdobytym w przemyśle. Integralną częścią książki są przykłady i zadania, które można nieodpłatnie pobrać ze strony: it.pwn.pl.

Andrzej Jaskulski: AutoCAD 2020/LT 2020 (2013+). Podstawy projektowania parametrycznego i nieparametrycznego. Wersja polska i angielska. Warszawa: Wydawnictwo Naukowe PWN, 2019

Strona główna Nasze propozycje AutoCAD 2020/LT 2020 (2013+). Podstawy projektowania parametrycznego i nieparametrycznego. Wersja polska i angielska.

Zamów NEWSLETTER

Nasze propozycje

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii
Vince Beiser

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii

Wydawnictwo Prześwity

Wyścig o metale niezbędne ludzkości do produkcji czystej energii oraz rozwoju cyfrowych technologii...

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych
Marek Blicharski, Jan Sieniawski

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych

Wydawnictwo Naukowe PWN

Książka jest pierwszym w kraju opracowaniem tłumaczącym wyczerpująco i na dobrym poziomie zjawiska fizyczne...

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Nasi partnerzy