ENG FB kontakt

28.04.2024

Strona główna Grudzień 2016 Analiza i badania symulacyjne wybranych warunków pomiarów odchyłek geometrycznych i zarysów kształtu powierzchni walcowych *

Analiza i badania symulacyjne wybranych warunków pomiarów odchyłek geometrycznych i zarysów kształtu powierzchni walcowych *

Analysis and simulation studies of selected conditions of geometric deviation’s measurements and cylindrical surface profiles

Krzysztof Nozdrzykowski   |   30-11-2016

Mechanik nr 12/2016 - Metrologia techniczna

STRESZCZENIE: Zaprezentowano wyniki badań, których praktyczne zastosowanie umożliwia dobór prędkości obrotowej gwarantującej stały styk końcówki trzpienia czujnika pomiarowego z powierzchnią walcową mierzonego przedmiotu. Rozważania analityczne poparto wynikami badań symulacyjnych i doświadczalnych. Badania wykazały, że zwiększenie prędkości obrotowej wpływa w sposób istotny na kształt rejestrowanego zarysu i wartość wyznaczanej odchyłki okrągłości.

SŁOWA KLUCZOWE: analiza sił, badania symulacyjne, odchyłki geometryczne, zarysy okrągłości

ABSTRACT: The results of tests presented herein lead to practical applications, such as the proper choice of rotary speed guaranteeing a constant contact between the measuring sensor’s spindle tip and cylindrical surface of measured object. Analytical considerations have been supported by the results of simulations and experimental tests. The research has shown that an increase in rotary speed essentially affects the recorded profile shape and the value of determined roundness deviation.

KEYWORDS: force analysis, simulations tests, geometric deviation, roundness profile

BIBLIOGRAFIA / BIBLIOGRAPHY:

  • Fita S. „Analiza błędów metod pomiaru kształtu przedmiotu o przekroju kołowym”. Rozprawa doktorska. Politechnika Wrocławska. Wrocław: Politechnika Wrocławska 1977.
  • Żebrowska-Łucyk S. „Wpływ nacisku pomiarowego czujników okrągłościomierzy na dokładność odwzorowania kształtu zarysów”. VII Konferencja Naukowo-Techniczna – Metrologia w Technikach Wytwarzania Maszyn, Kielce 1997. Zeszyty Naukowe Politechniki Świętokrzyskiej w Kielcach. T. II, Kielce (1977): s. 132÷138.
  • Whitehouse D.J. “Dynamic aspects of scanning surface instruments and microscopes”. Nanotechnology. Vol. 1 (1990): pp. 93–102.
  • Whitehouse D.J. “Enhacement of instrument and machine capabilities”. Nanotechnology, 7 (1996): pp. 45 – 51
  • Pawlus P., Śmieszek M. “The influence of stylus flight on change of surface topography parameters”. Precision Engineering. Vol. 29 (2005): pp. 272–280.
  • Tian Y., Liu X., Zhang D.G., Chetwynd D.G. “Dynamic modeling of the fidelity random surface measurement by the stylus method”. Wear. Vol. 266, Iss. 5–6, March 2009.
  • Adamczak S., Domagalski R., Janecki D. “Experimental into the significance of determination of harmonic roundness profiles and surface waviness”. 9th DAAAM International Symposium. Technical University Cluj-Napoco. Romania (1998).
  • Adamczak S. „Odniesieniowe metody pomiaru zarysów okrągłości części maszyn”. Monografie, Studia, Rozprawy. Kielce: Politechnika Świętokrzyska, 1998.
  • Adamczak S. „Pomiary geometryczne powierzchni. Zarysy kształtu falistości i chropowatości”. Warszawa: WNT, 2008.
  • Nozdrzykowski K. „Metodyka pomiarów geometrycznych odchyłek powierzchni walcowych wielkogabarytowych elementów maszyn na przykładzie wałów korbowych silników okrętowych”. Szczecin: Wydawnictwo Naukowe Akademii Morskiej w Szczecinie, 2013.

DOI: http://dx.doi.org/10.17814/mechanik.2016.12.569

Pobierz plik / download

Krzysztof Nozdrzykowski: Analiza i badania symulacyjne wybranych warunków pomiarów odchyłek geometrycznych i zarysów kształtu powierzchni walcowych (Analysis and simulation studies of selected conditions of geometric deviation’s measurements and cylindrical surface profiles) (PDF, ~0,9 MB)

Strona główna Grudzień 2016 Analiza i badania symulacyjne wybranych warunków pomiarów odchyłek geometrycznych i zarysów kształtu powierzchni walcowych *

Zamów NEWSLETTER

Nasze propozycje

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych
Jacek Banasiak, Katarzyna Szymańska-Dębowska

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Układy dynamiczne" to podręcznik związany z analizą układów dynamicznych, którą można zastosować w różnych...

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka
Joel L. Schiff (Tłum.: W. Sikorski)

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Matematyczny wszechświat" to wciągająca opowieść, która odkrywa przed czytelnikami prawa matematyczne...

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach
Tomasz Trzepieciński

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach

Wydawnictwo Naukowe PWN

W książce Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach przedstawiono specyfikę zjawiska tarcia...

Nasi partnerzy