ENG FB kontakt

16.05.2024

Strona główna Listopad 2016 Bardzo dobre wyniki GUM w porównaniach międzynarodowych „Pomiary płytek wzorcowych metodą interferencyjną” jako efekt współpracy naukowej z Politechniką Warszawską *

Bardzo dobre wyniki GUM w porównaniach międzynarodowych „Pomiary płytek wzorcowych metodą interferencyjną” jako efekt współpracy naukowej z Politechniką Warszawską *

Very good results of Central Office of Measures in key comparison „Measurement of gauge blocks by interferometry” as the result of cooperation in research with Warsaw University of Technology

Robert Szumski   |   29-10-2016

Mechanik nr 11/2016 - VII Kongres Metrologii „Metrologia fundamentem postępu w naukach stosowanych”

STRESZCZENIE: Równoważność wzorcowań płytek wzorcowych oferowanych przez krajowe instytucje metrologiczne została zweryfikowana w trakcie międzynarodowych porównań kluczowych EURAMET. L‑K1.2011. Laboratorium Długości w Zakładzie Długości i Kąta GUM osiągnęło bardzo dobre wyniki, które potwierdzają jego możliwości pomiarowe zgłoszone do międzynarodowej bazy CMC, a także uzyskało możliwość zgłoszenia do tej bazy nowej usługi wzorcowania, świadczonej na interferometrze multispektralnym do wzorcowania długich płytek wzorcowych o długości do 1000 mm

SŁOWA KLUCZOWE: płytki wzorcowe, interferencja, porównania międzynarodowe

ABSTRACT: The metrological equivalence of the gauge block calibration services offered by NMIs was verified in international key comparison EURAMET.L‑K1.2011. Length Laboratory of Length and Angle Division from Central Office of Measures has achieved very good results in the comparison and confirmed its measurement capabilities listed in Appendix C of the Mutual Recognition Arrangement (MRA). Laboratory also got the ability to submit the new service for the Multiwavelength interferometer for the calibration of gauge blocks up to 1000 mm.

KEYWORDS: gauge blocks, interferometry, key comparison

BIBLIOGRAFIA / BIBLIOGRAPHY:

  • Matus M. et al. “Measurement of gauge blocks by interferometry”. Metrologia. 53 (2016).
  • Wengierow M. et al. “Measurement system based on multi-wavelength interfereometry for long gauge block calibration”. Metrol. Meas. Syst. Vol. XX (2013): pp. 479–490.
  • Szumski R. „Pomiary długich płytek wzorcowych na zmodernizowanym stanowisku pomiarowym z interferometrem laserowym”. Pomiary Automatyka Kontrola. Nr 59 (2013): s. 304–307.
  • JCGM 100:2008 Guide to the Expression of Uncertainty in Measurement. BIPM
  • Decker J.E., Pekelsky J.R. “Uncertainty evaluation for the measurement of gauge blocks by optical interferometry”. Metrologia. Nr 34 (1997): s. 479–493.
  • Nien F.Z. et al. “Statistical analysis of key comparisons with linear trends”. Metrologia. Nr 41(2004): s. 231–237.
  • Krystek M., Bosse H. “A Bayesian approach to the linking of key comparisons”. arXiv:1501.07134 [stat.AP] (2015).
  • Lewis A. “Running of MRA comparisons in length metrology and monitoring their impact on CMCs”. CCL/WG-MRA/GD-1 (2012).

DOI: http://dx.doi.org/10.17814/mechanik.2016.11.462

Pobierz plik / download

Robert Szumski: Bardzo dobre wyniki GUM w porównaniach międzynarodowych „Pomiary płytek wzorcowych metodą interferencyjną” jako efekt współpracy naukowej z Politechniką Warszawską (Very good results of Central Office of Measures in key comparison „Measurement of gauge blocks by interferometry” as the result of cooperation in research with Warsaw University of Technology) (PDF, ~0,6 MB)

Strona główna Listopad 2016 Bardzo dobre wyniki GUM w porównaniach międzynarodowych „Pomiary płytek wzorcowych metodą interferencyjną” jako efekt współpracy naukowej z Politechniką Warszawską *

Zamów NEWSLETTER

Kalendarium wydarzeń

Pn
Wt
Śr
Cz
Pt
So
Nd

Nasze propozycje

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych
Jacek Banasiak, Katarzyna Szymańska-Dębowska

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Układy dynamiczne" to podręcznik związany z analizą układów dynamicznych, którą można zastosować w różnych...

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka
Joel L. Schiff (Tłum.: W. Sikorski)

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Matematyczny wszechświat" to wciągająca opowieść, która odkrywa przed czytelnikami prawa matematyczne...

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach
Tomasz Trzepieciński

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach

Wydawnictwo Naukowe PWN

W książce Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach przedstawiono specyfikę zjawiska tarcia...

Nasi partnerzy