ENG FB kontakt

26.04.2024

Strona główna Aktualności Wydarzenia Hexagon Manufacturing Intelligence wprowadza na rynek oprogramowanie PC-DMIS 2017 R1

Hexagon Manufacturing Intelligence wprowadza na rynek oprogramowanie PC-DMIS 2017 R1

13-02-2017

Hexagon Manufacturing Intelligence wprowadza na rynek oprogramowanie PC-DMIS 2017 R1

Firma Hexagon Manufacturing Intelligence ogłosiła wprowadzenie na rynek PC-DMIS 2017 R1 - najnowszej wersji oprogramowania metrologicznego. ‘R1’ to skrót od ‘Release 1’ ("Wersja 1") - aby osiągnąć maksymalną niezawodność platformy w 2017 roku planowane jest bowiem wprowadzenie na rynek dwóch głównych wersji oprogramowania PC-DMIS z aktualizacją Service Pack. PC-DMIS 2017 R1 ma na celu usprawnienie pracy użytkownika oraz udoskonalenie procesów pomiarowych.

PC-DMIS 2017 R1 ułatwia użytkownikowi korzystanie z najnowszych funkcji oraz udogodnień oprogramowania. Jest to możliwe dzięki ukazującemu się podczas pierwszego uruchamiania programu oknu „Co nowego” (‘What’s New’). Natomiast komunikaty dotyczące nowej wersji oprogramowania ułatwiają użytkownikowi dostęp do najważniejszych informacji. Praktyczne zastosowanie oprogramowania zostało w taki sposób udoskonalone, aby przyspieszyć realizację codziennych zadań, takich jak rozpoczynanie i przeprowadzanie czynności pomiarowych, kopiowanie i wklejanie oraz importowanie plików.

Najnowsza wersja PC-DMIS po raz pierwszy udostępnia użytkownikowi nową funkcję Optymalizacji Ścieżki, która korzysta z zastosowania algorytmu wielowątkowego w komputerach z procesoramii wielordzeniowymi, dzięki czemu optymalizacja ścieżki jest szybsza niż wcześniej. Funkcja QuickMeasure (Szybkiego Pomiaru) została poszerzona o proste czynności skanowania, a nowa strategia pomiarowa dla funkcji AutoFeature Plane umożliwia dyskretny wybór punktów pomiarowych. Zastosowanie QuickFeature możliwe jest również podczas korzystania z funkcji Live View (podgląd obrazu na żywo) w optycznych maszynach pomiarowych. Udoskonalone narzędzia chmury punktów obejmują: nowe narzędzie Caliper do przeprowadzania dwupunktowych kontroli, które działa jak prawdziwa suwmiarka oraz Udoskonalony Zoom i Obrót ( Zoom and Rotation) dla przenośnych skanerów - dzięki tej opcji dane pomiarowe płynnie przekazywane są do Okna Graficznego. Nowa funkcja Wymiarowania (Size Dimension) ułatwia obliczanie i raportowanie wymiarów stosowanych w wymiarze lokalnym oraz globalnym, zgodnie z normą ISO bądź ASME. Natomiast nowe narzędzie do mapowania Feature-Sensor (Cecha-Sonda) zapewnia udoskonaloną kontrolę za pomocą funkcji QuickFeature podczas czynności pomiarowych przeprowadzanych w wykorzystaniem urządzeń wielosensorowych.

Celem PC-DMIS 2017 R1 jest utrzymanie dużej stabilności produktu oraz poprawa pracy użytkownika - powiedział Ken Woodbine, kierownik linii produktów w Dziale Oprogramowania firmy Hexagon Manufacturing Intelligence Metrology. Najnowsza wersja oprogramowania to znaczący krok naprzód z jeszcze większą ilością cennych udogodnień przekładających się na poprawę wydajności pracy na wszystkich obszarach produkcji produktu - dodał Ken Woodbine.

Wraz PC-DMIS 2017 R1 na rynku debiutują dwie nowe aplikacje stworzone z myślą o środowisku przemysłowym – Inspect oraz Centrum Powiadomień (Notification Centre). Inspect to prosta w konfiguracji platforma służąca do rozpoczynania czynności pomiarowych za pomocą PC-DMIS oraz przeglądu raportów. Natomiast Centrum Powiadomień pomaga użytkownikowi kontrolować procesy pomiarowe za pomocą konfigurowanych ostrzeżeń otrzymywanych dzięki zewnętrznym bądź wewnętrznym kontrolkom świetlnym współrzędnościowej maszyny pomiarowej lub różnorodnym informacjom dźwiękowym.

Źródło: Hexagon Manufacturing Intelligence

Strona główna Aktualności Wydarzenia Hexagon Manufacturing Intelligence wprowadza na rynek oprogramowanie PC-DMIS 2017 R1

Zamów NEWSLETTER

Nasze propozycje

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych
Jacek Banasiak, Katarzyna Szymańska-Dębowska

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Układy dynamiczne" to podręcznik związany z analizą układów dynamicznych, którą można zastosować w różnych...

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka
Joel L. Schiff (Tłum.: W. Sikorski)

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Matematyczny wszechświat" to wciągająca opowieść, która odkrywa przed czytelnikami prawa matematyczne...

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach
Tomasz Trzepieciński

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach

Wydawnictwo Naukowe PWN

W książce Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach przedstawiono specyfikę zjawiska tarcia...

Nasi partnerzy