ENG FB kontakt

16.05.2024

Strona główna Listopad 2016 Metody sprawdzania dokładności przemysłowych tomografów komputerowych *

Metody sprawdzania dokładności przemysłowych tomografów komputerowych *

Methods of accuracy verification of industrial CT scanners

Eugeniusz Ratajczyk, Tomasz Kowaluk   |   30-10-2016

Mechanik nr 11/2016 - XVI Krajowa VII Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna „Metrologia w technikach wytwarzania”

STRESZCZENIE: Podano przykładową budowę przemysłowego tomografu komputerowego i wymieniono jego funkcje. Następnie scharakteryzowano wytyczne VDI/VDE i projektu normy ISO dotyczące testów dokładności tomografów.

SŁOWA KLUCZOWE: Przemysłowy tomograf komputerowy, główne funkcje tomografu przemysłowego, testy dokładności

ABSTRACT: A sample construction of a CT scanner with functions of main units were described. Then VDI/VDE guidelines and draft of ISO standard concerning accuracy tests of CT scanners were characterized.

KEYWORDS: industrial CT scanners, main functions of an industrial CT scanner, accuracy tests

BIBLIOGRAFIA / BIBLIOGRAPHY:

  • Ratajczyk E., Woźniak A. „Współrzędnościowe Systemy pomiarowe”. Warszawa: Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 2016.
  • Cierniak R. „Tomografia komputerowa. Budowa urządzeń CT. Algorytmy rekonstrukcyjne”. Warszawa: Akademicka Oficyna Wydawnicza EXIT, 2005.
  • Jezierski G. „Tomografia przemysłowa”. Warszawa: WNT, 1993.
  • Kielczyk J. „Radiografia przemysłowa”. Warszawa: Wyd. Gamma, 2006.
  • VDI/VDE 2630. Blatt 1.3: Computertomografie in der dimensiona len Messtechnik. Düsseldorf: 2009
  • ISO CT 10360-11: Geometrical Product Specifications (GPS) – Acceptance and reverification tests for coordinate measuring systems (CMS): CMMs using the principle of computed tomography (CT).
  • Ratajczyk E. „Tomografy komputerowe CT w zastosowaniach przemysłowych. Cz. II. Oprogramowania i parametry dokładności i metody ich wyznaczania”. Warszawa: Mechanik. Nr 5–6 (2011): s. 474–479.
  • Kowaluk T., Ratajczyk E. „Dokładność tomografów przemysłowych CT w wyznaczaniu wymiarów geometrycznych”. Pomiary Automatyka Kontrola (PAK). T. 59, nr 5 (2013): s. 462–447.
  • Bartscher M., Hilpert U., Goebbels J., Weidemann G. „Enhancement and Proff of Accuracy of Industrial Computed Tomography”. CIRP Annals – Manufacturing Technology. Vol. 56 (2007): pp. 495–498.
  • Wieczorowski M., Gapinski B. “X-ray CT in metrology of geometric feature”. ACTA Technica Corviniensis – Bulletin of Engineering. Iss. VII (2014): 95–100.
  • Weckenmann A. “Micro measurements using CT”. Symposium on Computed Tomography applied to Dimensional Control. Berlin (Niemcy), 2009.
  • Kruth J.P., Bartscher M., Carmignato S., Schmitt R., DE Chiffre L., Weckenmann A. “Computed tomography for dimensional metrology. CIRP Annals – Manufacturing Technology. Vol. 60 (2011): pp. 821–842.
  • Lettenbauer H., Georgi B., Weiss D. “Verification of the Accuracy of CT Systems for Measuring Technology”. Innovation SPECIAL Metrology, The Magazine from Carl Zeiss 10/2009.
  • Lettenbauer H. “Metrotomograthy® – High precision CT-Metrology in a new dimension”. Advances in Coordinate Metrology. Wydawnictwo Akademii Techniczno-Humanistycznej w Bielsko-Białej, Bielsko-Biała 2010.

DOI: http://dx.doi.org/10.17814/mechanik.2016.11.478

Pobierz plik / download

Eugeniusz Ratajczyk, Tomasz Kowaluk: Metody sprawdzania dokładności przemysłowych tomografów komputerowych (Methods of accuracy verification of industrial CT scanners) (PDF, ~0,7 MB)

Strona główna Listopad 2016 Metody sprawdzania dokładności przemysłowych tomografów komputerowych *

Zamów NEWSLETTER

Kalendarium wydarzeń

Pn
Wt
Śr
Cz
Pt
So
Nd

Nasze propozycje

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych
Jacek Banasiak, Katarzyna Szymańska-Dębowska

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Układy dynamiczne" to podręcznik związany z analizą układów dynamicznych, którą można zastosować w różnych...

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka
Joel L. Schiff (Tłum.: W. Sikorski)

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Matematyczny wszechświat" to wciągająca opowieść, która odkrywa przed czytelnikami prawa matematyczne...

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach
Tomasz Trzepieciński

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach

Wydawnictwo Naukowe PWN

W książce Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach przedstawiono specyfikę zjawiska tarcia...

Nasi partnerzy