ENG FB kontakt

16.05.2024

Strona główna Listopad 2016 Ocena dokładności odniesieniowych pomiarów zarysów falistości części maszyn *

Ocena dokładności odniesieniowych pomiarów zarysów falistości części maszyn *

Accuracy assessment of V-block measurements of waviness profiles of machine parts

Stanisław Adamczak, Paweł Zmarzły   |   29-10-2016

Mechanik nr 11/2016 - XVI Krajowa VII Międzynarodowa Konferencja Naukowo-Techniczna „Metrologia w technikach wytwarzania”

STRESZCZENIE: Głównym celem badań było przeanalizowanie dokładności odniesieniowych pomiarów zarysów falistości. Przedstawiono zmodyfikowaną konstrukcję przyrządu pomiarowego służącego do pomiaru odchyłki falistości powierzchni cylindrycznych metodą odniesieniową. Dokonano oceny dokładności rozpatrywanej metody pomiarowej, bazując na eksperymentalnych badaniach porównawczych. Wyniki badań wykazały, że modyfikacja przyrządu pomiarowego zwiększyła dokładność odniesieniowych pomiarów zarysów falistości.

SŁOWA KLUCZOWE: metoda odniesieniowa, profil falistości, dokładność metody, współczynnik wykrywalności

ABSTRACT: The main goal of research was to analyse the accuracy of V-block waviness measurement. The paper presents a modified structure of measuring device used to measure waviness deviation of cylindrical parts based on V-block method. Accuracy assessment of the presented method was carried out based on the comparative researches. The results indicated that modification of measuring device increases accuracy of V-block waviness measurements.

KEYWORDS: V-block method, waviness profile, method accuracy, coefficient of detectability

BIBLIOGRAFIA / BIBLIOGRAPHY:

  • Chen M., Takahashi S., Takamasu K. “Development of high-precision micro-roundness measuring machine using a high-sensitivity and compact multi-beam angle sensor”. Precision Engineering. Vol. 42 (2015): pp. 276–282.
  • Mekid S., Vacharanukul K. “In-process out-of-roundness measurement probe for turned workpieces”. Measurement. Vol. 44 (2011): pp. 762–766.
  • PN-93/M-04261: Metody oceny odchyłek okrągłości. Pomiar metodami dwu- i trzypunktowymi.
  • Yu H., Xu M., Zhao J. “In-situ roundness measurement and correction for pin journals in oscillating grinding machines”. Mechanical Systems and Signal Processing. Vol. 50–51 (2015): pp. 548–562.
  • Ma H., Zhuang C., Xiong Z. “Multipoint Recursive Sequential Three-point Method for On-machine Roundness Measurement”. Procedia CIRP. Vol. 31 (2015): pp. 459–464.
  • Nozdrzykowski K. „System do pomiarów odchyłek geometrycznych zespołu czopów głównych wału korbowego”. PAK. R. 57, nr 12 (2011): s. 1592–1594.
  • Stępień K. “In situ measurement of cylindricity – Problems and solutions”. Precision Engineering. Vol. 38 (2014): pp. 697–701.
  • Nyberg TR. “Dynamic macro topography of large slowly rotating cylinders”. Mechanical Engineering Series 108. Helsinki, ActaPolytechnica Scandinavica, 1993.
  • Adamczak S., Zmarzły P., Stępień K. “Theoretical and Practical Investigations of V-Block Waviness Measurement of Cylindrical Parts”. Metrology and Measurement Systems. Vol. 22, No. 2 (2015): pp. 181–192.
  • Adamczak S., Zmarzły P., Stępień K. “Identification and analysis of optimal method parameters of the V-block waviness measurements”. Bulletin of the Polish Academy of Sciences: Technical Sciences. Vol. 64, No. 2 (2016): pp. 325–332.

DOI: http://dx.doi.org/10.17814/mechanik.2016.11.466

Pobierz plik / download

Stanisław Adamczak, Paweł Zmarzły: Ocena dokładności odniesieniowych pomiarów zarysów falistości części maszyn (Accuracy assessment of V-block measurements of waviness profiles of machine parts) (PDF, ~0,5 MB)

Strona główna Listopad 2016 Ocena dokładności odniesieniowych pomiarów zarysów falistości części maszyn *

Zamów NEWSLETTER

Kalendarium wydarzeń

Pn
Wt
Śr
Cz
Pt
So
Nd

Nasze propozycje

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych
Jacek Banasiak, Katarzyna Szymańska-Dębowska

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Układy dynamiczne" to podręcznik związany z analizą układów dynamicznych, którą można zastosować w różnych...

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka
Joel L. Schiff (Tłum.: W. Sikorski)

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Matematyczny wszechświat" to wciągająca opowieść, która odkrywa przed czytelnikami prawa matematyczne...

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach
Tomasz Trzepieciński

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach

Wydawnictwo Naukowe PWN

W książce Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach przedstawiono specyfikę zjawiska tarcia...

Nasi partnerzy