ENG FB kontakt

08.05.2024

Strona główna System laserowy XM-60

System laserowy XM-60

19-07-2017

Logo

 

Wraz ze wzrostem wymagań co do tolerancji wymiarowych producenci muszą obecnie uwzględniać wszystkie źródła błędów maszyn, na których wytwarza się części. Są to błędy skręceń, a także błędy liniowe i prostoliniowości. System XM-60 do pomiarów wieloosiowych umożliwia wyznaczenie wszystkich błędów w ramach jednego pomiaru. System jest przeznaczony na rynek obrabiarek. Uzupełnia rodzinę produktów kalibracyjnych firmy Renishaw, do której należą: laserowy system XL-80, kalibrator osi obrotowych XR20-W oraz bezprzewodowy system QC20-W ballbar. W systemie XM-60 zastosowano stację kompensacyjną XC-80 w celu skorygowania wpływu warunków środowiskowych.

Laserowy system pomiarowy XM-60 do obrabiarek

Rys. Laserowy system pomiarowy XM-60 do obrabiarek

 

System XM-60 wyposażono w bardzo precyzyjny układ laserowy, w którym wykorzystano opatentowaną technikę optycznego pomiaru odchyłek i światłowodowy system przesyłania wiązki. Kompaktowy układ przesyłania wiązki jest oddzielony od głowicy laserowej, co ogranicza efekty cieplne w miejscu pomiaru. Można go mocować bezpośrednio na obrabiarce, w pozycji odwróconej o 180°, na boku lub na tylnej części. Ma to szczególne znaczenie w miejscach o utrudnionym dostępie.

Zmniejszenie poziomu niepewności pomiaru jest bardzo ważne dla każdego użytkownika. System XM-60 firmy Renishaw jest przeznaczony do bezpośredniego pomiaru błędów obrabiarki i zmniejsza niedokładności, które mogą wynikać ze skomplikowanych obliczeń matematycznych stosowanych w niektórych alternatywnych technikach. Pomiar bezpośredni sprawia, że porównanie dokładności obrabiarki przed regulacją i po niej jest szybkim i łatwym zadaniem, możliwym do wykonania za pomocą istniejących programów pomiarowych dla systemu XL-80. Odbiornik jest bezprzewodowy i zasilany bateriami wielokrotnego ładowania. Dzięki temu podczas ruchów obrabiarki unika się obecności kabli, które mogłoby być źródłem niedokładności lub spowodować przerwanie wiązki laserowej w trakcie pomiaru.

Każdy system do pomiarów wieloosiowych XM-60 jest kalibrowany zgodnie z międzynarodowymi normami i dostarczany z certyfikatem. Daje to użytkownikom pewność, że system ma określoną dokładność, która będzie zagwarantowana na stanowisku pracy, w codziennej eksploatacji.

Strona główna System laserowy XM-60

Zamów NEWSLETTER

Kalendarium wydarzeń

Pn
Wt
Śr
Cz
Pt
So
Nd

Nasze propozycje

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych
Jacek Banasiak, Katarzyna Szymańska-Dębowska

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Układy dynamiczne" to podręcznik związany z analizą układów dynamicznych, którą można zastosować w różnych...

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka
Joel L. Schiff (Tłum.: W. Sikorski)

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Matematyczny wszechświat" to wciągająca opowieść, która odkrywa przed czytelnikami prawa matematyczne...

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach
Tomasz Trzepieciński

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach

Wydawnictwo Naukowe PWN

W książce Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach przedstawiono specyfikę zjawiska tarcia...

Nasi partnerzy