Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy struktury geometrycznej powierzchni. Autorem tej wyjątkowej pozycji wydawniczej jest prof. dr hab. inż. Stanisław Adamczak, były rektor Politechniki Świętokrzyskiej, który od wielu lat − wraz z zespołem współpracowników z tej uczelni oraz z innych ośrodków badawczych i przemysłowych − zajmuje się tematyką oceny struktury geometrycznej powierzchni.