ENG FB kontakt

25.04.2025

Strona główna Marzec 2016 Jakościowa analiza usuwania wiórów podczas wiercenia Ti₆Al₄V

Jakościowa analiza usuwania wiórów podczas wiercenia Ti₆Al₄V

Krzysztof Jemielniak   |   29-02-2016

Mechanik nr 03/2016 - Z działalności CIRP

STRESZCZENIE: Wióry powstające podczas wiercenia materiałów plastycznych są ciągłe i mają skłonność do gromadzenia się w rowkach wiórowych, co prowadzi do: zarysowań powierzchni otworu, przywierania materiału oraz przyspieszonego zużycia wiertła lub wręcz do jego złamania. Jednym ze sposobów unikania tych problemów jest stosowanie sinusoidalnych, niskoczęstotliwościowych osiowych drgań wiertła (low frequency vibration assisted drilling – LFVAD).

BIBLIOGRAFIA / BIBLIOGRAPHY:

  • Brinksmeier E., Pecat O., Rentsch R. “Quantitative analysis of chip extraction in drilling of Ti6Al4V”. CIRP Annals – Manufacturing Technology. 64/1 (2015): pp. 93÷96.

Pobierz plik / download

Krzysztof Jemielniak: Jakościowa analiza usuwania wiórów podczas wiercenia Ti₆Al₄V (PDF, ~1,3 MB)

Strona główna Marzec 2016 Jakościowa analiza usuwania wiórów podczas wiercenia Ti₆Al₄V

Zamów NEWSLETTER

Nasze propozycje

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii
Vince Beiser

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii

Wydawnictwo Prześwity

Wyścig o metale niezbędne ludzkości do produkcji czystej energii oraz rozwoju cyfrowych technologii...

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych
Marek Blicharski, Jan Sieniawski

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych

Wydawnictwo Naukowe PWN

Książka jest pierwszym w kraju opracowaniem tłumaczącym wyczerpująco i na dobrym poziomie zjawiska fizyczne...

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Nasi partnerzy