ENG FB kontakt

25.04.2025

Strona główna Grudzień 2016 Przeszukiwanie baz danych w aspekcie ochrony patentowej urządzeń mechanicznych *

Przeszukiwanie baz danych w aspekcie ochrony patentowej urządzeń mechanicznych *

Searching databases in the aspect of the patent protection of mechanical devices

Arkadiusz Kwapisz, Bożena Kaczmarska, Wacław Gierulski   |   30-11-2016

Mechanik nr 12/2016 - Różne

STRESZCZENIE: Kluczowym elementem w podejmowaniu decyzji o udzieleniu patentu jest potwierdzenie nowości i oryginalności rozwiązania. Następuje to poprzez porównanie ze znanym stanem techniki, który jest określany w wyniku przeszukiwania baz danych. Procedury przeszukiwania baz w celu określenia stanu techniki są mało znane wśród inżynierów-wynalazców, co czasami stanowi ograniczenie w rozwoju innowacyjności. Przedstawiony artykuł przybliża tę tematykę i koncentruje się na zagadnieniu urządzeń mechanicznych, co może być pomocne na różnych etapach tworzenia wynalazków.

SŁOWA KLUCZOWE: ochrona patentowa, stan techniki, innowacje

ABSTRACT: In the decision concern to granting the patent confirming the novelty and originalities of solutions are an essential key element. It is taking place by comparing with the known prior art which is being described as a result of searching databases. Practices of searching bases in order to determine the prior art are little-known amongst engineer-inventors what sometimes limiting the innovation in the development constitutes. The presented article is moving this subject matter closer and is directed at issues of mechanical devices what can be useful on various stages of creating inventions.

KEYWORDS: patent protection, prior art, innovations

BIBLIOGRAFIA / BIBLIOGRAPHY:

  • Ustawa z 30 czerwca 2000 r. – Prawo własności przemysłowej (tekst jednolity: Dz.U. z 2013 r. poz. 1410 ze zm.
  • Pyrża A. „Poradnik wynalazcy”. Warszawa: Urząd Patentowy RP, 2009.
  • www.uprp.pl.
  • Santarek K., Gawlik J., Boratyńska-Sala A., Kiełbus A., Gierulski W., Kaczmarska B., Sulerz A. „Działania rozwijające kreatywność i innowacyjność studentów”. Ekspertyza KIP PAN. Warszawa 2016.
  • Bojczuk D., Rębosz-Kurdek A. „Optimal design of bar structures with their supports in problems of stability and free vibrations”. Journal of Theoretical and Applied Mechanics. Vol. 52, Iss. 2 (2014): pp. 533–546.
  • Adamczak S., Zmarzły P., Stępień K. „Identification and analysis of optimal method parameters of the V-block waviness measurements”. Bulletin of the Polish Academy of Sciences Technical Sciences. Vol. 64, Iss. 2 (2016): pp. 325–332.
  • https://worldwide.espacenet.com/?locale=en_EP (dostęp: 20.09.2016 r.).
  • http://web2.wipo.int/classifications/ipc/ipcpub/search/stats/#version=20160101&lang=en] (dostęp: 20.09.2016 r.).
  • https://www.j-platpat.inpit.go.jp/web/all/top/BTmTopEnglishPage (dostęp: 20.09.2016 r.).
  • http://grab.uprp.pl/ (dostęp: 20.09.2016 r.).

DOI: http://dx.doi.org/10.17814/mechanik.2016.12.580

Pobierz plik / download

Arkadiusz Kwapisz, Bożena Kaczmarska, Wacław Gierulski: Przeszukiwanie baz danych w aspekcie ochrony patentowej urządzeń mechanicznych (Searching databases in the aspect of the patent protection of mechanical devices) (PDF, ~0,7 MB)

Strona główna Grudzień 2016 Przeszukiwanie baz danych w aspekcie ochrony patentowej urządzeń mechanicznych *

Zamów NEWSLETTER

Nasze propozycje

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii
Vince Beiser

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii

Wydawnictwo Prześwity

Wyścig o metale niezbędne ludzkości do produkcji czystej energii oraz rozwoju cyfrowych technologii...

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych
Marek Blicharski, Jan Sieniawski

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych

Wydawnictwo Naukowe PWN

Książka jest pierwszym w kraju opracowaniem tłumaczącym wyczerpująco i na dobrym poziomie zjawiska fizyczne...

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Nasi partnerzy