ENG FB kontakt

25.04.2025

Strona główna Aktualności Wydarzenia Robot KUKA LBR iiwa otrzymał najwyższe wyróżnienie w konkursie Red Dot Award

Robot KUKA LBR iiwa otrzymał najwyższe wyróżnienie w konkursie Red Dot Award

26-06-2014

Tworząc lekkiego robota LBR iiwa, inżynierowie z firmy KUKA i projektant wzornictwa przemysłowego Mario Selic znów potwierdzili swój profesjonalizm, znajomość technologicznego know-how oraz umiejętności w zakresie nowatorskiego wzornictwa.

 

Nieprzeciętnie innowacyjny, funkcjonalny, o wyjątkowej jakości, ergonomii oraz wzornictwie – właśnie tak nowego lekkiego robota KUKA oceniło wymagające jury konkursu Red Dot Award: Product Design 2014 i przyznało mu najbardziej pożądany tytuł Red Dot: Best of the Best. Jest to najwyższe wyróżnienie, które otrzymują wyłącznie najlepsze produkty w danej kategorii.

W robocie LBR iiwa każdy element pełni określoną funkcję, jednak ogromne znaczenie ma również oryginalny design i innowacyjny kształt. Organiczne formy, miękkie krawędzie, płaskie kąty i giętkość – robot LBR iiwa został bowiem stworzony do bezpośredniej współpracy z człowiekiem.

W 2014 r. do konkursu zgłoszonych zostało 4815 produktów 1800 producentów z 53 krajów. Tylko 60 spośród nich zdobyło tytuł Red Dot: Best of the Best.

Źródło: www.kuka-robotics.com

Strona główna Aktualności Wydarzenia Robot KUKA LBR iiwa otrzymał najwyższe wyróżnienie w konkursie Red Dot Award

Zamów NEWSLETTER

Nasze propozycje

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii
Vince Beiser

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii

Wydawnictwo Prześwity

Wyścig o metale niezbędne ludzkości do produkcji czystej energii oraz rozwoju cyfrowych technologii...

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych
Marek Blicharski, Jan Sieniawski

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych

Wydawnictwo Naukowe PWN

Książka jest pierwszym w kraju opracowaniem tłumaczącym wyczerpująco i na dobrym poziomie zjawiska fizyczne...

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Nasi partnerzy