ENG FB kontakt

25.04.2025

Strona główna Nasze propozycje Autodesk Inventor 2020 PL/2020+. Podstawy metodyki projektowania. Wersja polska i angielska.

Autodesk Inventor 2020 PL/2020+. Podstawy metodyki projektowania. Wersja polska i angielska.

Wydawnictwo: Wydawnictwo Naukowe PWN

Autor: Andrzej Jaskulski

Autodesk Inventor 2020 PL/2020+. Podstawy metodyki projektowania. Wersja polska i angielska.

Podręcznik jest przeznaczony dla osób, które chcą się efektywnie nauczyć podstaw projektowania wyrobów za pomocą programu Autodesk Inventor 2020 (a także wersji nowszych oraz 2019). Książka zawiera metodycznie poprawne i zweryfikowane tysiącami godzin zajęć efektywne ćwiczenia oraz absolutne minimum wiedzy teoretycznej, pozwalające na samodzielne zrealizowanie wszystkich etapów modelowania 3D oraz redagowania dokumentacji 2D i 3D, a także na stworzenie poprawnego, łatwego do modyfikacji projektu.

Nauka metodą samokształcenia wymaga od ośmiu do 12 godzin lekcyjnych, a pod kierunkiem nauczyciela – od czterechdo sześciu godzin lekcyjnych.

Integralną częścią książki są pliki i elementy konfiguracyjne, które można nieodpłatnie pobrać ze strony internetowej: it.pwn.pl.

Andrzej Jaskulski: Autodesk Inventor 2020 PL/2020+. Podstawy metodyki projektowania. Wersja polska i angielska. Warszawa: Wydawnictwo Naukowe PWN, 2019

Strona główna Nasze propozycje Autodesk Inventor 2020 PL/2020+. Podstawy metodyki projektowania. Wersja polska i angielska.

Zamów NEWSLETTER

Nasze propozycje

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii
Vince Beiser

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii

Wydawnictwo Prześwity

Wyścig o metale niezbędne ludzkości do produkcji czystej energii oraz rozwoju cyfrowych technologii...

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych
Marek Blicharski, Jan Sieniawski

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych

Wydawnictwo Naukowe PWN

Książka jest pierwszym w kraju opracowaniem tłumaczącym wyczerpująco i na dobrym poziomie zjawiska fizyczne...

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Nasi partnerzy