ENG FB kontakt

25.06.2024

Strona główna Aktualności Kalendarium
Kwiecień 2020
Pn
Wt
Śr
Cz
Pt
So
Nd
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30

Wydarzenia: 02 kwietnia 2020 r.

31.03-02.04.2020 r. Konferencje i sympozja

Coordinate Measuring Technique

Coordinate Measuring Technique

XIV Międzynarodowa Konferencja Naukowa “Coordinate Measuring Technique”

Celem konferencji jest wymiana informacji na temat postępu naukowego i technicznego w zakresie budowy, oprogramowania i praktyki pomiarowej oraz dokładności współrzędnościowych maszyn pomiarowych, a także wpływu współrzędnościowej techniki pomiarowej na definiowanie wymagań dokładnościowych.

Tematyka konferencji obejmuje:

  • współrzędnościowe maszyny pomiarowe (CMM),
  • teorię współrzędnościowej techniki pomiarowej,
  • łańcuch kalibracyjny, nadzorowanie i niepewność pomiaru,
  • praktykę pomiarów współrzędnościowych,
  • specyfikacje geometrii wyrobów (GPS),
  • niekonwencjonalne pomiary 3D,
  • systemy pomiarowe i nadzorowanie obrabiarek,
  • trójwymiarowe pomiary chropowatości powierzchni.

Przewidziano obrady plenarne, obrady w sesjach i sesje plakatowe, a także prezentacje producentów i dostawców maszyn współrzędnościowych.

Organizator: Laboratorium Metrologii Akademii Techniczno--Humanistycznej w Bielsku-Białej

Miejsce: Bielsko-Biała

Źródło: www.wtp.pl

02.04.2020 r. Konferencje i sympozja

Sposoby ograniczenia zużycia narzędzi, formy zużycia – aspekty praktyczne (termin 2)

Sposoby ograniczenia zużycia narzędzi, formy zużycia – aspekty praktyczne (termin 2)

02.04.2020; godzina 12:00 / 14:00

Rejestracja / Program

 

Organizator: Sandvik Polska

Miejsce: Internet

Więcej informacji: https://www.sandvik.coromant.com/pl

Zamów NEWSLETTER

Nasze propozycje

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych
Jacek Banasiak, Katarzyna Szymańska-Dębowska

Układy dynamiczne w modelowaniu procesów przyrodniczych, społecznych, technologicznych

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Układy dynamiczne" to podręcznik związany z analizą układów dynamicznych, którą można zastosować w różnych...

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka
Joel L. Schiff (Tłum.: W. Sikorski)

Matematyczny wszechświat. Od Pitagorasa do Plancka

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Matematyczny wszechświat" to wciągająca opowieść, która odkrywa przed czytelnikami prawa matematyczne...

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach
Tomasz Trzepieciński

Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach

Wydawnictwo Naukowe PWN

W książce Tarcie i smarowanie w procesach kształtowania blach przedstawiono specyfikę zjawiska tarcia...

Nasi partnerzy