ENG FB kontakt

09.05.2025

Strona główna Aktualności Kalendarium
Kwiecień 2020
Pn
Wt
Śr
Cz
Pt
So
Nd
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
25
26
27
28
29
30

Wydarzenia: 21 kwietnia 2020 r.

21-22.04.2020 r. Konferencje i sympozja

Chromatografia Jonowa i Techniki Pokrewne

Chromatografia Jonowa i Techniki Pokrewne

W ramach Konferencji zostaną wygłoszone referaty i komunikaty dotyczące chromatografii jonowej oraz technik pokrewnych i ich zastosowań w analizie próbek ciekłych, stałych i gazowych, a także sesje posterowe oraz wystawa odczynników i sprzętu pomiarowego. Konferencja jest adresowana w szczególności do pracowników jednostek naukowo-badawczych, uczelni wyższych, stacji uzdatnia wód, oraz pracowników laboratoriów przemysłowych. Poza wykładami plenarnymi zaproszonych specjalistów w kraju i z zagranicy, pierwszego dnia konferencji odbędzie się sesja młodych (15-minutowe komunikaty), a drugiego dnia sesja „Praktyczne aspekty chromatografii jonowej”.

Organizatorzy: Instytut Podstaw Inżynierii Środowiska PAN w Zabrzu oraz Katedra Chemii Środowiska i Bioanalityki, Wydziału Chemii UMK w Toruniu

Miejsce: Zabrze

Więcej informacji: ipis.pan.pl

Zamów NEWSLETTER

Nasze propozycje

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii
Vince Beiser

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii

Wydawnictwo Prześwity

Wyścig o metale niezbędne ludzkości do produkcji czystej energii oraz rozwoju cyfrowych technologii...

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych
Marek Blicharski, Jan Sieniawski

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych

Wydawnictwo Naukowe PWN

Książka jest pierwszym w kraju opracowaniem tłumaczącym wyczerpująco i na dobrym poziomie zjawiska fizyczne...

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Nasi partnerzy