ENG FB kontakt

29.04.2025

Strona główna Aktualności Wydarzenia 20. Polsko-Amerykańska Konferencja Nauki i Technologii – zmiana terminu

20. Polsko-Amerykańska Konferencja Nauki i Technologii – zmiana terminu

19-06-2020

 

Jubileuszowa Polsko-Amerykańska Konferencja Nauki i Technologii odbędzie się nie w maju (jak początkowo planowano), lecz w październiku. Jej organizatorami są Sieć Badawcza ŁUKASIEWICZ – Instytut Lotnictwa oraz Ohio State University. Wydarzenie zostało objęte patronatem honorowym Ministerstwa Rozwoju oraz patronatem Ministerstwa Nauki i Szkolnictwa Wyższego.

Zakres tematyczny konferencji:

  • napędy hybrydowo-elektryczne,
  • działalność badawcza w zakresie systemów bezzałogowych,
  • nowoczesne technologie lotnicze i kosmonautyczne.

Wydarzenie jest skierowane do: przedstawicieli administracji i organizacji rządowych związanych z nauką i technologią; naukowców specjalizujących się w tematyce lotnictwa i kosmonautyki, energii i środowiska, obrony i bezpieczeństwa; ekspertów ds. badań i rozwoju; przedstawicieli przemysłu oraz wszystkich osób zainteresowanych tematyką konferencji.

Konferencja odbędzie się w Warszawie, w siedzibie Sieci Badawczej ŁUKASIEWICZ – Instytutu Lotnictwa. Udział w spotkaniu jest bezpłatny, przy czym uczestnicy we własnym zakresie rezerwują miejsca noclegowe oraz pokrywają koszty zakwaterowania i dojazdu.

 

Źródło: https://ilot.edu.pl

Strona główna Aktualności Wydarzenia 20. Polsko-Amerykańska Konferencja Nauki i Technologii – zmiana terminu

Zamów NEWSLETTER

Nasze propozycje

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii
Vince Beiser

Wyścig o najważniejsze metale świata. Brudne oblicze czystej energii i cyfrowych technologii

Wydawnictwo Prześwity

Wyścig o metale niezbędne ludzkości do produkcji czystej energii oraz rozwoju cyfrowych technologii...

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych
Marek Blicharski, Jan Sieniawski

Inżynieria materiałowa połączeń spawanych

Wydawnictwo Naukowe PWN

Książka jest pierwszym w kraju opracowaniem tłumaczącym wyczerpująco i na dobrym poziomie zjawiska fizyczne...

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.
Stanisław Adamczak

Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych. Zarysy kształtu – Falistość – Mikro- i nanochropowatość.

Wydawnictwo Naukowe PWN

"Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych" to kompendium poświęcone tematyce pomiarów i analizy...

Nasi partnerzy